Центр коллективного пользования высокоточных измерительных технологий в области фотоники (ЦКП ВНИИОФИ) образован в 2003 году на базе Федерального государственного унитарного предприятия «Всероссийского научно-исследовательского института оптико-физических измерений» (ФГУП "ВНИИОФИ") и предназначен для аттестации испытательного оборудования, повышения эффективности использования имеющихся во ВНИИОФИ эталонов, создаваемых и приобретаемых высокоточных средств измерений, а также аналитического, измерительного, диагностического, аттестованного испытательного оборудования и другого оборудования (далее именуется – научное оборудование), необходимого для решения научных задач, определенных Приоритетными направлениями развития науки, технологий и техники Российской Федерации и Перечнем критических технологий Российской Федерации.
В 2008 году ЦКП включился в работы по метрологическому обеспечению и оценке соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии.
В 2010 году в ЦКП было введено аттестованное испытательное оборудование:

• метрологический комплекс для измерения параметров волоконно-оптических систем со спектральным уплотнением передаваемой информации;
• комплексная высокоточная метрологическая установка для исследований, аттестации и сертификации полупроводниковых излучателей (светодиодов);
• метрологическая установка для обеспечения единства и достоверности измерений характеристик солнечных батарей;
• метрологическая установка для измерения поверхностной плотности теплового потока (ИК излучения).

Подробнее...

Директор Батурин Андрей Сергеевич

Руководитель Центра директор ФГУП ВНИИОФИ Крутиков Владимир Николаевич

Заместитель Руководителя Центра Заместитель директора ФГУП "ВНИИОФИ"  по научной работе Золотаревский Юрий Михайлович

Подробнее...