Центр коллективного пользования высокоточных измерительных технологий в области фотоники (ЦКП ВНИИОФИ) образован в 2003 году на базе Федерального государственного унитарного предприятия «Всероссийского научно-исследовательского института оптико-физических измерений» (ФГУП "ВНИИОФИ") и предназначен для аттестации испытательного оборудования, повышения эффективности использования имеющихся во ВНИИОФИ эталонов, создаваемых и приобретаемых высокоточных средств измерений, а также аналитического, измерительного, диагностического, аттестованного испытательного оборудования и другого оборудования (далее именуется – научное оборудование), необходимого для решения научных задач, определенных Приоритетными направлениями развития науки, технологий и техники Российской Федерации и Перечнем критических технологий Российской Федерации.
В 2008 году ЦКП включился в работы по метрологическому обеспечению и оценке соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии.
В 2010 году в ЦКП было введено аттестованное испытательное оборудование:

• метрологический комплекс для измерения параметров волоконно-оптических систем со спектральным уплотнением передаваемой информации;
• комплексная высокоточная метрологическая установка для исследований, аттестации и сертификации полупроводниковых излучателей (светодиодов);
• метрологическая установка для обеспечения единства и достоверности измерений характеристик солнечных батарей;
• метрологическая установка для измерения поверхностной плотности теплового потока (ИК излучения).

Подробнее...

Директор Батурин Андрей Сергеевич

Руководитель Центра Заместитель директора по развитию Бормашов Виталий Сергеевич

Подробнее...